Ivanir Ferreira
18.09.2026
Espectroscopia Raman Intensificada por Superfície amplia possibilidades de análise de resíduos de permetrina sem retirar fragmentos das peças
Pesquisadores da USP e da Universidade da Califôrnia (UCLA) testam uma tecnologia a laser para rastrear com precisão resíduos tóxicos de pesticidas em acervos de museus. O método, conhecido como Espectroscopia Raman Intensificada por Superfície (SERS, na sigla em inglês), foi utilizado para identificar a presença de permetrina, um inseticida orgânico empregado na proteção de peças históricas contra fungos e insetos.
